技術參數(shù)

激光器波長532nm，光柵類型1800 gr/mm，光譜范圍50-9000 cm-1；

激光器波長785nm，光柵類型1200 gr/mm，光譜范圍50-3200 cm-1；

自動xyz三圍平臺，最小步長0.1μm，重復精讀≤0.1μm；

高靈敏度：硅三階拉曼峰信噪比≥25:1，四階峰 可見；

高重復性：≤ ±0.02cm-1；

系統(tǒng)總通光效率：≥30%；高穩(wěn)定性：德國原裝研究級Leica顯微鏡(配有高分辨彩色攝像機)；

物鏡：5X， 20X，100 X物鏡以及50X長焦物鏡；

探測器：標準CCD探測器(1024 x 256 像素)，

半導體冷卻至–70 oC，無需水或液氮冷卻。

XYZ高精度機械自動平臺：掃描范圍X ≥ 100 mm；Y ≥ 70 mm，精度 ≤ 100 nm；

自動聚焦，測試過程中可修正聚焦位置，適用于表面不平整樣品，3D拉曼掃描成像

儀器配有電化學反應池

應用范圍

能源儲存、半導體材料、碳材料、化學、物理學、生物學、醫(yī)學、環(huán)境、考古等各個領域。

純定性分析、定量分析和測定分子結構等。