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測(cè)試與失效分析

Testing and Failure Analysis

紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)

設(shè)備型號(hào)：TU-1901
針對(duì)各類儲(chǔ)能業(yè)務(wù)需求，TIES力圖發(fā)展成為布局全面，面向市場(chǎng)，集測(cè)試分析、失效分析、資質(zhì)認(rèn)證、技術(shù)開(kāi)發(fā)、工程放大、智能制造、高價(jià)值信息服務(wù)、高端培訓(xùn)為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術(shù)參數(shù)

1.波長(zhǎng)范圍： 190nm~900nm 

2.波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.3nm(開(kāi)機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn)) 

3.波長(zhǎng)重復(fù)性：0.1nm 

4.光譜帶寬： 0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、5.0nm 


應(yīng)用范圍

定量分析、純度分析、結(jié)構(gòu)分析、定性分析

  

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