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測試與失效分析

Testing and Failure Analysis
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原子力顯微鏡（AFM）

設備型號：Dimension ICON
針對各類儲能業(yè)務需求，TIES力圖發(fā)展成為布局全面，面向市場，集測試分析、失效分析、資質認證、技術開發(fā)、工程放大、智能制造、高價值信息服務、高端培訓為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯系我們

技術參數

1.掃描范圍：90μm × 90μm × 10μm

2.光學輔助觀察系統(tǒng)：285 ~ 1285倍放大

3. 分辨率：1.5μm

4. 視場范圍：180-1465μm 


應用范圍

表面形貌圖像、表面粗糙度、三維表面形態(tài)影像、形態(tài)的定量測量
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X射線光電子能譜儀（XPS）
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